Оптическая КИМ µCMM

ЗАПРОСИТЬ ПРЕДЛОЖЕНИЕ
СКАЧАТЬ ПРЕЗЕНТАЦИЮ
О продукте

Преимущества Оптическая КИМ µCMM:

Оптическая КИМ обеспечивает высокую геометрическую точность нескольких бесконтактных пространственных измерений, тем самым позволяя измерять мельчайшие элементы поверхностей на крупных изделиях с прецизионным определением взаимного расположения таких отдельных измерений друг относительно друга.

 Спектр доступных для измерения поверхностей включает практически все стандартные промышленные и композиционные материалы, пластик, поликристаллический алмаз (PCD), углепластик (CFRP), керамику, хром, кремний.

Оптическая КИМ µCMM

Метрологические характеристики

Принцип измерения Бесконтакный, оптический, пространственный, основанный на технологии Focus Variation c расширением Vertical Focus Probing
Количество измеряемых точек Одиночное измерение: X: 1720, Y: 1720, X x Y: 2,95 млн точек
Мульти-измерение: до 500 млн точек
Измерительный объём (X x Y x Z) 310 мм x 310 мм x 310 мм = 29 791 000 мм³
Скорость перемещения осей До 100 мм/с
Коаксиальная подсветка Коаксиальная светодиодная подсветка высокой мощности с электронным управлением
Мониторинг системы 9 температурных датчиков (погрешность: ± 0,1 K), 3 датчика вибрации, внутренний мониторинг силы тока и напряжения, долгосрочное ведение журнала событий
Погрешность объемных измерений
Приведенные величины основаны на стандартах ISO 10360-8 и VDI 2617
EUni:Tr:ODS,MPE = (0,8 + L/600) мкм (L в мм) Погрешность оси основана на стандарте ISO 10360-8
EUniZ:St:ODS,MPE = (0,15 + L/50) мкм (L в мм) Выполняется для одиночных измерений, а также измерения высоты ступени
 
Объектив   3000WD8 1900WD30 1500WD23 1500WD70 800WD17 800WD37 400WD19 150WD11
Рабочее расстояние мм 8,8 30 23,5 64,4 17,5 37 19 11
Диапазон боковых измерений (X, Y) мм 5,26 3,29 2,63 2,63 1,32 1,32 0,66 0,26
(X x Y) мм² 27,64 10,8 6,91 6,91 1,71 1,71 0,43 0,06

Нужна помощь в подборе?

Сотрудничая с промышленными предприятиями, заводами и инженерными центрами, мы предлагаем уникальные технические решения.